VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Genetic algorithm for test pattern generator design. Automatic evolution of circuits
    Garbolino, Tomasz ; Papa, Gregor
    Vir: Applied intelligence. - ISSN 0924-669X (Vol. 32, no. 2, 2010, str. 193-204)
    Vrsta gradiva - članek, sestavni del
    Leto - 2010
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 23607079

vir: Applied intelligence. - ISSN 0924-669X (Vol. 32, no. 2, 2010, str. 193-204)
loading ...
loading ...
loading ...