VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Sputter depth profiling with sample rotation introduced by A. Zalar
    Kovač, Janez, 1965-
    Vir: Salamanca-2010 (Str. 112)
    Vrsta gradiva - prispevek na konferenci
    Leto - 2010
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 24088359