VSE knjižnice (vzajemna bibliografsko-kataložna baza podatkov COBIB.SI)
  • Quantitative sputter depth profiling [Elektronski vir]
    Kovač, Janez, 1965- ...
    Vir: Program and exhibition (Str. 99)
    Vrsta gradiva - prispevek na konferenci
    Leto - 2015
    Jezik - angleški
    COBISS.SI-ID - 29118247