-
Zasnova linearnega merilnika absolutnega pomika z optičnim mikrosistemom s submikronsko ločljivostjo : zaključno poročilo o rezultatih raziskovalnega projekta L2-9755Trontelj, Janez, 1941-Vrsta gradiva - raziskovalno poročiloZaložništvo in izdelava - Ljubljana : Fakulteta za elektrotehniko, Laboratorij za mikroelektroniko, 2010Jezik - slovenskiCOBISS.SI-ID - 8498516
Avtor
Trontelj, Janez, 1941-
Drugi avtorji
Pleteršek, Anton |
Strle, Drago |
Maček, Marijan |
Rozman, Vojan |
Trontelj, Janez, ml. |
Sešek, Aleksander, 1977- |
Goljevšček, Jernej |
Fink, Boštjan |
Novak, Franci, 1975 |
Fakulteta za elektrotehniko |
Laboratorij za mikroelektroniko |
Ljubljana
Teme
absolutna meritev linearnega pomika |
optični mikrosistemi |
integrirano polje fotodiod |
načrtovanje mikrosistemov |
načrtovanje mikrosistemov |
linear absolute measurement |
optical microsystems |
integrated array of photodiodes |
microsystem design
Vnos na polico
Trajna povezava
- URL:
Faktor vpliva
Dostop do baze podatkov JCR je dovoljen samo uporabnikom iz Slovenije. Vaš trenutni IP-naslov ni na seznamu dovoljenih za dostop, zato je potrebna avtentikacija z ustreznim računom AAI.
| Leto | Faktor vpliva | Izdaja | Kategorija | Razvrstitev | ||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | JCR | SNIP | |
Faktor vpliva
Baze podatkov, v katerih je revija indeksirana
| Ime baze podatkov | Področje | Leto |
|---|
| Povezave do osebnih bibliografij avtorjev | Povezave do podatkov o raziskovalcih v sistemu SICRIS |
|---|---|
| Trontelj, Janez, 1941- | 01927 |
| Pleteršek, Anton | 00130 |
| Strle, Drago | 00166 |
| Maček, Marijan | 03494 |
| Rozman, Vojan | 02377 |
| Trontelj, Janez, ml. | 10476 |
| Sešek, Aleksander, 1977- | 24326 |
| Goljevšček, Jernej | 28578 |
| Fink, Boštjan | ![]() |
| Novak, Franci, 1975 | ![]() |
Izberite prevzemno mesto:
Prevzem gradiva po pošti
Obvestilo
Gesla v Splošnem geslovniku COBISS
Izbira mesta prevzema
| Mesto prevzema | Status gradiva | Rezervacija |
|---|
Prosimo, počakajte trenutek.
